Po naudojimo temperatūros matavimo žiedas deformavosi

1. Testo temperatūra skiriasi nuo prietaiso rodomos temperatūros. Temperatūros matavimo žiedo sukepinimas atspindi kaupiamąją šilumą, kurią sugeria bandymo taškas šio sukepinimo proceso metu, o ne absoliučią temperatūrą. Santykinė bandymo taško temperatūra gali būti apskaičiuojama naudojant temperatūros korekcijos kreivę kaip produkto gamybos etaloną. Tačiau ši santykinė temperatūros vertė gali būti visiškai tokia pati, kaip rodoma termoporos prietaiso temperatūra. Pavyzdžiui, rodoma termoporos prietaiso temperatūra yra tik santykinė temperatūros jutimo zondo temperatūra tuo metu, o ne bendra krosnies temperatūra. Skirtinguose krosnies taškuose gali būti temperatūrų skirtumų. b. Termoporos prietaiso rodoma temperatūra priklauso elektroninės indukcijos temperatūrai ir negali fiksuoti objektyvios aplinkos poveikio. Temperatūros matavimo žiedu išmatuota temperatūra yra tikroji gaminio kaitinimo patirtis šio sukepinimo proceso metu. Jai įtakos turi ne tik temperatūra, bet ir tokie veiksniai kaip laikas, atmosfera ir išdėstymo tankis. c. Termoporos prietaisų rodomi rodmenys laikui bėgant gali svyruoti. Temperatūros matavimo žiedo medžiaga yra keraminė medžiaga, o jo temperatūros jutimo charakteristikos yra fiksuotos vieną kartą, tačiau vis tiek gali skirtis to paties modelio temperatūros jutimo charakteristikos ir skirtingi temperatūros matavimo žiedų partijų numeriai. d. Santykiniai etaloniniai temperatūros taškai, naudojami termoporoms gaminti, ir santykiniai etaloniniai temperatūros taškai, naudojami temperatūros matavimo žiedo temperatūros palyginimo lentelei sudaryti, gali būti visiškai nesutampa.
2. Temperatūros matavimo žiedas po sukepinimo taps elipsės formos, o tai rodo, kad sukepinimo proceso metu iš įvairių krypčių išsiskiria konvekcinė šiluma. Šio reiškinio priežastys gali būti prastas krosnies sandarinimas, netolygus šilumos tiekimas kai kuriems kaitinimo elementams ir nepagrįstas gaminių išdėstymas.
3. Po sukepinimo temperatūros matavimo žiedas taps apskrito kūgio formos, rodantis spinduliuotės šilumos iš viršaus ir laidumo šilumos iš apačios skirtumą sukepinimo proceso metu. Šio reiškinio priežastys gali būti: silpnas pagrindo plokštės šilumos laidumas, temperatūros skirtumas tarp viršutinio ir apatinio sluoksnių, netolygus kai kurių kaitinimo elementų įkaitimas ir nelygus pagrindo plokštės paviršius.
4. Temperatūros matavimo žiedas pasidaro juodas, geltonas arba ištirpsta po sukepinimo. Šis reiškinys dažnai atsiranda sukepinant didelės koncentracijos inertinių dujų komponentus, kai temperatūra yra aukšta arba ilgesnis laikymo laikas. Didelės koncentracijos inertinių dujų komponentų sukepinimo procese mažėja temperatūros matavimo žiedo tikslumas.
5. Nerekomenduojama temperatūros matavimo žiedo tiesiogiai liesti ir sukepinti su tokiomis medžiagomis kaip grafitas, cirkonis, korundo mulitas, magnis, silicis ir kt.
6. Po sukepinimo atsiranda temperatūros matavimo žiedo plyšimo reiškinys: Temperatūros matavimo žiedo plyšimą įtakojantys veiksniai yra aukšta temperatūra, greitas kaitinimo greitis, ilgas izoliacijos laikas, didelė drėgmė, atmosferos įtaka, netolygi temperatūra, išorinė jėga ir kt.
Aukščiau pateikta analizė yra tik nuoroda ir negali būti apibendrinta. Taip pat reikia išsamiai išanalizuoti konkrečią situaciją, atsižvelgiant į tokius veiksnius kaip sukepinimo įranga, sukepinimo procesas, sukepinimo aplinka ir sukepinimo laikas.